精科智創(chuàng)TDZT-04C型鐵電測(cè)試儀近代物理學(xué)科設(shè)備

    精科智創(chuàng)TDZT-04C型鐵電測(cè)試儀近代物理學(xué)科設(shè)備之一，關(guān)于壓電材料，鐵電材料的功能更加豐富，體現(xiàn)出來(lái)不同類(lèi)型的參數(shù)，也是物理教學(xué)的重要設(shè)備之一。

TDZT-04C 型鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)是最新一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開(kāi)關(guān)特性，可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱(chēng)電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。

主要技術(shù)指標(biāo)：
1.輸出信號(hào)電壓：：薄膜：0～±10V 陶瓷、材料：0～±2000V
2.輸出信號(hào)頻率：薄膜材料1-1000HZ，陶瓷：0-1Hz
3.電容范圍：1000nf～ 100nf, 精度: ≤1%。
4.電流范圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。

5、測(cè)試樣品：0-20mm 5個(gè)

6、高壓樣品池：2個(gè)，一個(gè)封閉式：8CM*6CM 一個(gè)開(kāi)放式：8CM*5CM

7、三維移動(dòng)薄膜測(cè)試平臺(tái)：直立式探針一套，角度式探針一套

8、電流：1-10倍放大，信號(hào)：1-20倍。.數(shù)據(jù)結(jié)口：USB或BNC接口。

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件： 能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線，定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試，電阻測(cè)量，漏電流測(cè)量。

10.可以配合ZJ-3和ZJ-6型壓電測(cè)試儀操作系統(tǒng)