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2024-11-22
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HTIM-300高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaA
JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設備，測試薄膜介電常數及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下參數隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(Q)等參數，同時計算獲得反
PV520A-S超聲元件阻抗分析儀是由清華大學自動化系和中國科學院聲學所共同研制開發的。測試如下以及十多個參數：諧振頻率 Fs 、大電導 Gmax 、帶F2-F1 、反諧振頻率 Fp 、品質因數 Qm 、自由電容 CT 、動態電阻 R1 、動態電感L1 、動態電容 C1 、靜態電容 C0 、有效機電耦合系數 Keff 。用于壓電超聲器件和設備的檢測綜合性解決方案.也是目前高校和生產單位的重要檢測儀
TSDC-100型高低溫熱刺激電流測量儀,熱激勵去極化電流測量系(thermally stimulated depolar-ization currents,簡寫為TSDC或TSC)是電介質材料在受熱過程中建立極化態或解除極化態時所產生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發，然后施加一個直流的極化電壓，經過一段時間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子
JKZC-BMZD01型薄膜介電常數及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設備，測試薄膜介電常數及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下參數隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(B)、導納(Y)、損耗(D)、品質因數(Q)等參數，同時計算
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