JKZC-YDZK03AN壓電阻抗綜合測試系統

關鍵詞：壓電系數，阻抗，顯微鏡，高低溫

    JKZC-YDZK03N壓電阻抗綜合測試系統是一款多用途的綜合測試系統，即可用于縱向壓電D33測試，豎向D15,橫向D31等性能測試，配置了高低溫冷熱臺，進行變溫測試，配置顯微鏡進行微觀觀測，也可以用于用于用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測試，是對壓電器件和設備進行頻率掃描和阻抗測量分析的*解決方案，可以快捷方便地測試壓電器件的各項參數特性,正反諧振阻抗及壓電材料的電容等相關系數，是研究壓電材料和阻抗分析的綜合設備，是科研的重要輔助設備。

一、產品應用范圍：

1.壓電材料器件科學研究

2.壓電材料的用于評定壓電陶瓷片性能優劣

3.壓電材料阻抗分析

4.其他介質材料： 塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性

液晶單元：介電常數、彈性常數等C-V特性

5.  導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性

半導體元件：LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性； 晶體管或集成電路的寄生參數分析

二、主要技術參數：

頻率：10HZ-30MHZ

測試電平：AC: AC電壓:5mV - 2Vrms ,分辨率：1mV, DC：±40V，分辨率：1mV

測試參數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

顯微鏡：630萬像素，偏光觀察模式

薄膜平臺：30*30MM樣品臺,探針連接

×1擋：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升級到10000PC/N.

×0.1擋： 1到200pC/N，2 至400pC/N。

可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用

誤差：×1擋：±2%±1個數字，當d33在100到4000pC/N；

計量標定標準樣尺寸：18mm*0.8mm，老化時間：2-3年（評判壓電測試儀準確性能的重要依據之一）

提供壓電薄膜標準片：20*20MM

電壓保護：放電保護功能 

±5%±1個數字，當d33在10到200pC/N；

×0.1擋：±2%±1個數字，(當d33在10到200pC/N)

±5%±1個數字，當d33在10到20pC/N。

分辨率：   ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N。

尺寸：施力裝置：Φ110×140mm；儀器本體：240×200×80mm。